美国ANATECH（Analysis Tech Inc.）成立于1983年，总部位于波士顿北部，作为电子封装器件可靠性测试的国际设计及制造公司，一直处于行业**地位。其创始人John W. Sofia博士是热阻分析和热导率理论的专家，发表了众多相关论文，为公司产品的技术深度奠定了坚实基础。

ANATECH的产品线丰富，在热性能测试和电气性能测试领域表现优秀。

在热性能测试方面，其热阻测试仪（如Phase12）备受瞩目。该仪器严格符合美军标和JEDEC标准，广泛应用于二极管、三极管、线形调压器、可控硅、LED、MOSFET、IGBT、IC等分立功率器件的热阻测试及分析。它具备高精度的测量能力，加热电流测量精度在低电流测量下可达0.2%，在2A系统为±1mA等，热电偶测量精度典型值为±0.1°C，能满足各类精密测试需求。同时，设备操作便捷，可适配多种电流规格，为电子元件的热管理提供了精准的数据支持，助力提升产品的可靠性和稳定性。

公司的热导系数测试仪同样优势显著。它实现了软件控制测试过程的完全自动化，电子方法自动测试样品厚度，还能自动对所有数据的测试精度进行评估分析。测试温度和压力可按需设定，能够设定不同压力组对样品进行测试，并具备厚度恒定和压力恒定的测试模式，为材料热导性能的研究提供了全面且高效的解决方案。

在电气性能测试领域，ANATECH的瞬断监测仪也毫不逊色。它拥有宽范围的阈值电阻设置，从100到5000ohms（低）和300到5000ohms（高）可调节，能适应不同的监测需求。具备高灵敏度，典型通道电阻公差仅为±4%，能精准捕捉瞬断现象，为电子元件的质量检测和故障排查提供了可靠保障。

美国ANATECH凭借其专业的技术团队、丰富的行业经验和对品质的执着追求，不断推出高质量、高性能的测试仪器，广泛应用于电子、材料等多个领域，成为全球客户信赖的合作伙伴，持续推动着相关行业的技术进步和发展。